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掃描電子顯微鏡中電子背散射衍射技術已廣泛地成為金屬學家、陶瓷學家和地質學家分析顯微結構及織構的強有力的工具。EBSD系統中自動花樣分析技術的發展,加上顯微鏡電子束和樣品臺的自動控制使得試樣表面的線或面掃描能夠迅速自動地完成,從采集到的數據可繪制取向成像圖OI...
9年前 (2016-04-06) 11316℃
20世紀90年代以來,裝配在SEM上的電子背散射花樣(Electron Back-scattering Patterns,簡稱EBSP)晶體微區取向和晶體結構的分析技術取得了較大的發展,并已在材料微觀組織結構及微織構表征中廣泛應用。該技術也被稱為電子背散射衍射(Electron ...
10年前 (2015-11-24) 18356℃
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